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德国PI PHYSIK INSTRUMENTE 位移台 型号 P-587.6CD

德国PI PHYSIK INSTRUMENTE 位移台 型号 P-587.6CD

德国PI PHYSIK INSTRUMENTE 位移台 型号 P-587.6CD

技术参数主要功能基本配置可选配置质量保证

产品参数:

型号:P-587.6CD

主动轴:X,Y,Z,θX,θY,θZ

X、Y向上的闭环行程:800微米

Z向上的闭环行程:200微米

θX、θY向上的闭环偏摆角:±0.5毫弧度

θZ向上的闭环偏摆角:±0.5毫弧度

X、Y向上的开环/闭环分辨率:0.9/2.2纳米

Z向上的开环/闭环分辨率:0.4/0.7纳米

θX、θY向上的开环/闭环分辨率:0.05/0.1微弧度

θZ向上的开环/闭环分辨率:0.1/0.3微弧度

X、Y和Z向上的线性误差:0.01%

θX、θY、Z向上的线性误差:0.1%

X、Y向上的重复精度:±3纳米

Z向上的重复精度:±2纳米

θX、θY向上的重复精度:±0.1微弧度

θZ向上的重复精度:±0.15微弧度

平面度:<15纳米


德国PI PHYSIK INSTRUMENTE 位移台 型号 P-587.6CD

 

应用领域:

干涉测量

计量

纳米压印

半导体测试

半导体制造


德国PI PHYSIK INSTRUMENTE 位移台 型号 P-587.6CD

 

应用领域:

干涉测量

计量

纳米压印

半导体测试

半导体制造

 

产品参数:

型号:P-587.6CD

主动轴:X,Y,Z,θX,θY,θZ

X、Y向上的闭环行程:800微米

Z向上的闭环行程:200微米

θX、θY向上的闭环偏摆角:±0.5毫弧度

θZ向上的闭环偏摆角:±0.5毫弧度

X、Y向上的开环/闭环分辨率:0.9/2.2纳米

Z向上的开环/闭环分辨率:0.4/0.7纳米

θX、θY向上的开环/闭环分辨率:0.05/0.1微弧度

θZ向上的开环/闭环分辨率:0.1/0.3微弧度

X、Y和Z向上的线性误差:0.01%

θX、θY、Z向上的线性误差:0.1%

X、Y向上的重复精度:±3纳米

Z向上的重复精度:±2纳米

θX、θY向上的重复精度:±0.1微弧度

θZ向上的重复精度:±0.15微弧度

平面度:<15纳米


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