产品参数:
型号:P-587.6CD
主动轴:X,Y,Z,θX,θY,θZ
X、Y向上的闭环行程:800微米
Z向上的闭环行程:200微米
θX、θY向上的闭环偏摆角:±0.5毫弧度
θZ向上的闭环偏摆角:±0.5毫弧度
X、Y向上的开环/闭环分辨率:0.9/2.2纳米
Z向上的开环/闭环分辨率:0.4/0.7纳米
θX、θY向上的开环/闭环分辨率:0.05/0.1微弧度
θZ向上的开环/闭环分辨率:0.1/0.3微弧度
X、Y和Z向上的线性误差:0.01%
θX、θY、Z向上的线性误差:0.1%
X、Y向上的重复精度:±3纳米
Z向上的重复精度:±2纳米
θX、θY向上的重复精度:±0.1微弧度
θZ向上的重复精度:±0.15微弧度
平面度:<15纳米
德国PI PHYSIK INSTRUMENTE 位移台 型号 P-587.6CD
应用领域:
干涉测量
计量
纳米压印
半导体测试
半导体制造
德国PI PHYSIK INSTRUMENTE 位移台 型号 P-587.6CD
应用领域:
干涉测量
计量
纳米压印
半导体测试
半导体制造
产品参数:
型号:P-587.6CD
主动轴:X,Y,Z,θX,θY,θZ
X、Y向上的闭环行程:800微米
Z向上的闭环行程:200微米
θX、θY向上的闭环偏摆角:±0.5毫弧度
θZ向上的闭环偏摆角:±0.5毫弧度
X、Y向上的开环/闭环分辨率:0.9/2.2纳米
Z向上的开环/闭环分辨率:0.4/0.7纳米
θX、θY向上的开环/闭环分辨率:0.05/0.1微弧度
θZ向上的开环/闭环分辨率:0.1/0.3微弧度
X、Y和Z向上的线性误差:0.01%
θX、θY、Z向上的线性误差:0.1%
X、Y向上的重复精度:±3纳米
Z向上的重复精度:±2纳米
θX、θY向上的重复精度:±0.1微弧度
θZ向上的重复精度:±0.15微弧度
平面度:<15纳米