产品特点:
紫外、可见光、近红外、短波红外、中远红外等波长定制
单台干涉仪可集成多个工作波长
纳米级相位分辨率
动态范围(>500条纹数)
产品参数:
光学系统结构:双通路
测量能力:反射波前面型测量,或透明光学元件双透射测量
单台集成工作波长数量:标准1或2工作波长,最高可定制8工作波长
定制波长:193nm至14µm范围内任意波长,包含紫外波段266nm、355nm、405nm,可见光及近红外波段550nm、625nm、780nm、940nm、1050nm,短波红外/中红外/远红外1.55µm、2µm、3.39µm、10.6µm等
有效口径:5.1英寸(130mm)
光学中心高度:108mm
对准系统:实时相位及泽尼克系数显示
系统偏振:兼容消偏光学器件
视场角对准范围:+/-2°
可调对焦范围:+/-2.5m
尺寸重量:910x600x260mm³,约25kg
抗震性:无需隔震
RMS重复性:<0.7nm(<λ/900)
可测反射率范围:4%-100%
法国 PHASICS 光电传感器 型号 Kaleo MultiWAVE
公司介绍:
Phasics的高分辨率波前传感技术提供波前测量系统和定量相位成像解决方案。Phasics的波前传感技术称为四波横向剪切干涉仪(QWLSI)。该技术提供分辨率(高达852×720个测量点)、亚纳米级别灵敏度和数百微米级别动态范围。
北京德诺伊流体科技有限公司是一家专业从事欧洲工业产品进口贸易的公司。主要产品有工业自动化设备、机电设备、液压设备、电气设备和零部件等产品。公司总部于2007年在德国成立。公司自成立以来,一直以德国公司的身份为国内一些贸易商,设备商及终端客户提供产品代购服务。
产品介绍:
Kaleo MultiWAVE动态干涉仪兼顾测量透射波前误差和反射波前误差(TWE/RWE)。直径5.1英寸(130毫米)的镀膜和未镀膜的光学器件可在其工作波长下直接进行测量。
法国 PHASICS 光电传感器 型号 Kaleo MultiWAVE
公司介绍:
Phasics的高分辨率波前传感技术提供波前测量系统和定量相位成像解决方案。Phasics的波前传感技术称为四波横向剪切干涉仪(QWLSI)。该技术提供分辨率(高达852×720个测量点)、亚纳米级别灵敏度和数百微米级别动态范围。
北京德诺伊流体科技有限公司是一家专业从事欧洲工业产品进口贸易的公司。主要产品有工业自动化设备、机电设备、液压设备、电气设备和零部件等产品。公司总部于2007年在德国成立。公司自成立以来,一直以德国公司的身份为国内一些贸易商,设备商及终端客户提供产品代购服务。
产品介绍:
Kaleo MultiWAVE动态干涉仪兼顾测量透射波前误差和反射波前误差(TWE/RWE)。直径5.1英寸(130毫米)的镀膜和未镀膜的光学器件可在其工作波长下直接进行测量。
产品特点:
紫外、可见光、近红外、短波红外、中远红外等波长定制
单台干涉仪可集成多个工作波长
纳米级相位分辨率
动态范围(>500条纹数)
产品参数:
光学系统结构:双通路
测量能力:反射波前面型测量,或透明光学元件双透射测量
单台集成工作波长数量:标准1或2工作波长,最高可定制8工作波长
定制波长:193nm至14µm范围内任意波长,包含紫外波段266nm、355nm、405nm,可见光及近红外波段550nm、625nm、780nm、940nm、1050nm,短波红外/中红外/远红外1.55µm、2µm、3.39µm、10.6µm等
有效口径:5.1英寸(130mm)
光学中心高度:108mm
对准系统:实时相位及泽尼克系数显示
系统偏振:兼容消偏光学器件
视场角对准范围:+/-2°
可调对焦范围:+/-2.5m
尺寸重量:910x600x260mm³,约25kg
抗震性:无需隔震
RMS重复性:<0.7nm(<λ/900)
可测反射率范围:4%-100%