产品参数：
规格
- 分辨率（Z） : 10纳米
- 精度（Z）：满刻度的±0.2 %。
- 离地距离：离物镜最远可达150毫米
- 测量范围 (Z) : 0.03 mm ~ 1.2 mm
- 测量速度：100 Hz
韩国 NANOBASE 光干涉测量仪 型号 XPER IP MINI
产品介绍：
干涉式测绘仪器，厚度是一个典型的与长度有关的参数，对它的测量是在各种工业领域进行的，如汽车、航空、造船、半导体和显示器行业。在各种测量技术中，光学干涉测量法非接触式的光学干涉测量法的性质不会损害样品。Xper-IP Mini是这种干涉测量方法的成果，用于测量厚的透明层的厚度。
韩国 NANOBASE 光干涉测量仪 型号 XPER IP MINI
产品介绍：
干涉式测绘仪器，厚度是一个典型的与长度有关的参数，对它的测量是在各种工业领域进行的，如汽车、航空、造船、半导体和显示器行业。在各种测量技术中，光学干涉测量法非接触式的光学干涉测量法的性质不会损害样品。Xper-IP Mini是这种干涉测量方法的成果，用于测量厚的透明层的厚度。
产品参数：
规格
- 分辨率（Z） : 10纳米
- 精度（Z）：满刻度的±0.2 %。
- 离地距离：离物镜最远可达150毫米
- 测量范围 (Z) : 0.03 mm ~ 1.2 mm
- 测量速度：100 Hz
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