法国Cameca品牌分析仪器应用于光学领域

法国Cameca品牌分析仪器应用于光学领域

光学薄膜分析

Cameca的光谱激发电子能谱仪（SEMS）可以用于光学薄膜的分析。它可以测量薄膜的厚度、折射率、吸收系数等参数，帮助光学制造商评估薄膜的性能和质量，并优化薄膜的设计和制备过程。

材料显微结构分析

Cameca的电子探针显微镜（EPMA）可以用于光学材料的显微结构分析。它可以观察和测量样品的表面形貌、晶体结构和缺陷，帮助研究人员了解材料的特性和性能，并指导光学材料的制备和应用。